Unsere Fourier-Transformations Infrarot (FTIR) Spektrometer ermöglichen Messungen in Reflexion und Transmission vom fern-infraroten bis zum sichtbaren spektralen Bereich. Die Messungen können durch ein angekoppeltes Infrarotmikroskop auch an sehr kleinen Proben mit lateralen Abmessungen von wenigen 100 µm durchgeführt werden.

Um Messungen unter extremen Bedingungen durchzuführen, werden die zu untersuchenden Proben in optische Kryostate eingebaut, die Messungen bei tiefen Temperaturen oder auch gleichzeitig bei hohen Drücken ermöglichen.

Für Hochdruckmessungen werden Proben in Diamantstempelzellen eingebaut, die Drücke bis ca. 20 GPa ermöglichen. Der Maximaldruck ist abhängig von der Kalettengröße (900, 800, 600, 500 µm) der Diamanten.

Mit unserer Bedampfungsanlage können wir verschiede Substrate mit Materialien wie Silber oder Gold bedampfen.

Das UV-VIS Spektrometer wird genutzt um Messungen im ultravioletten und sichtbaren Spektralbereich mithilfe eines CCD-Spektrographen durchzuführen.

Mithilfe eines selbstgebauten Infrarotmikroskops können Messungen bei tiefen Temperaturen und bei hohen Drücken simultan durchgeführt werden.

Mit dem EDX Messgerät können Materialien mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie untersucht werden, um Filmdicken oder elementare Kompositionen zu ermitteln.

Das Rasterkraftmikroskop wird genutzt um Oberflächen mechanisch abzutasten um mechanische Kräfte im Nanometerbereich zu ermitteln.

Mit dem Rasterelektronenmikroskop wird ein fokussierter Elektronenstrahl über die Oberfläche eines Objekts geführt, um ein vergrößertes Bild der Oberfläche zu erzeugen.